PCEVA,PC绝对领域,探寻真正的电脑知识
打印 上一主题 下一主题
开启左侧

Asuka小讲座番外篇之集成电路发热的微观研究

  [复制链接]
跳转到指定楼层
1#
Asuka 发表于 2012-5-19 12:36 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
点击数:12081|回复数:22
本帖最后由 Asuka 于 2012-5-20 21:39 编辑

    这个话题最近真心火爆,虽然Asuka应该出的是光刻技术的加强版,但借着这么好一个时机,Asuka还是出一个CMOS制程技术的番外篇,名字是大规模集成电路发热的微观研究。其实,石大一直有希望我可以从理论层面去解释这次Ivy Bridge发热的微观原因,但这个问题涉及的要素实在太多,从我们这些产品使用者的角度又很难通过具体实验去探个究竟,所以我们只能去进行猜测,多种猜测,只是这个结论,恐怕难以下定。就如同半导体加工这个产业,整个工艺流程涉及化工,材料,电子,光、电、磁,机械,控制等,几乎所有代表人类最尖端科技水平的专业。
    同样,从Ivy Bridge展开,到底芯片的发热由何产生,错综复杂,可能性颇多,Asuka今天就尽量为大家全面介绍各种可能性,把逻辑梳理清楚。首先,就从发热的产生开始吧!

Heat Generation,热的发生
    这个部分异常复杂,简单说来,在场效应管的沟道(channel)区,也就是源极(source)和漏极(drain)之间,尤其是接近drain的部分会有一个很大的侧面电场,电场加速了这里的载子,以电子为例讨论,电子增加了能量,电子在材料中散播的方式有很多,但是仅仅通过和晶格的震动耗散能量,这就是热能的来源,也就是焦耳热的基础形式。看似和大家所熟悉的焦耳第一定律Q=(I^2)*R有相当大的差距,的确,由于半导体的特殊性,这部分发热的公式如下,由于实在非常非常复杂,就列给大家看下好了。

H为每单位体积内的焦耳发热率,第一项中,J为电流密度,E为电场强度;第二项中,R-G是电子电洞对重组合(Recombination)和产生(Generation)之差,EG是晶体管的带隙(bandgap),kB为波兹曼常数,T是晶格温度。简单分析下,第一项类似传统的焦耳热,第二项中的T可以理解为这个发热过程是越来越热的,这就解释了,为什么半导体必须尽快散热。这就涉及今天要探讨的第二块,也是面对我们今天Ivy Bridge发热中更加重要的一个部分,热的传导。当然,晶体管之间的导线同样也会发热,这个基本可以沿用焦耳定律分析。

Heat Transport,热的传导
    热的传导就相对简单,这里列一些材料的导热系数,

    整个集成电路基本只分布在晶圆之上几微米的空间里,就目前的体硅(Bulk Silicon)半导体工艺而言,热量基本上通过Bulk Silicon耗散。就如开核以后看到的die,厚度还是可见的,所以几乎可以无视上面的电路那点厚度,完全可以将其理解为一个自发热的整体,所以直接将散热器压在上面是make sense的,不过提醒大家一句,脆性表面,很容易损坏的哦,这也就是为什么要封装成我们平时看到那样子的一个原因,并且,电路就在表面下面一点点的空间里,给一刀几乎必定挂,自重啊!然后呢,仅就目前这个趋势,我们来看张图。

    注意哦,纵坐标怎么长的,这张完全可以看做摩尔定律的副作用,很遗憾,也很容易理解,就是应该这么涨,怎么不是工资,偏偏是物价呢!(啥?)
    但正如Asuka之前所说,副作用可不仅仅是发热,随着晶体管越做越小,其他恶化效应相对发热来说更加棘手,所以,包括High-K,Low-K,FinFET,Cu Interconnect,SOI等等,都是从不同角度出发去抑制不同问题发生的技术。这里有一个陌生的东西,之前并没有和大家提过,就是Low-K dielectric,简单和大家介绍一下就好,晶体管之间的绝缘物在整体尺寸缩小时,会开始储存电荷,类似电容,从而发生串扰,那就要去降低这种Coupling Capacitance or Parasitic Capacitance,就是寄生电容,所以就需要相比传统二氧化硅更低相对介电常数的材料,这就是Low-K技术想解决的问题。但是,Low-K会有诸多问题,比如不易进行蚀刻,电稳定性较差(回头会提),且大部分材料是多孔的,导热性能很差,行,这是影响发热之一。不着急,还多着呢!
    然后我们来看SOI,就如之前介绍的,SOI是Silicon on Insulator,绝缘物上硅,相比传统体硅,需要先在晶圆表面之下一定范围内打进氧离子,强制氧化一层硅产生二氧化硅(绝缘体),但是上表中也有写二氧化硅的导热系数和体硅比较,我想应该一目了然了吧!
    然后是nanowire,也就是晶体管之间的连线,这些导线一直被我们当作是电路中很理想的元件,但是也是元件,之前Asuka提过,在.13Micron的制程时,铝导线被换成了铜导线,这无疑是加大成本的动作,但是为什么会被采用呢!正是因为这渺小的导线,在不断微缩的制程下,逐渐体现了其存在感,让你们无视我!╭(╯^╰)╮!
    接下去到了今天的重点,也就是Ivy Bridge相对于Sandy Bridge最大的一个工艺改变,FinFET a.k.a. 3D Trigate。基本我们可以把它猜做Ivy Bridge表现的最大可能之一了。我们先看图回顾一下,

如大家所见,Trigate,三重门(喂!)正是这样包裹在了晶体管发热的部分之上,那我们来看看,真是曝光的电子显微镜下的FinFET,这也是不久之前才被验证的,Intel确实采用了FinFET技术的证据,这是一个E3-1230V2的正式版。

    上图中看到了,Gate材料是Silicon Germanium,锗化硅。然后么,大家去对照下表格吧!我想剩下的也不用我说了吧!多好的一条被子啊!真暖和!
最后,我再简单提一下刚才提及电稳定性,让大家知道下发热的后果。首先,加在晶体管上的一次性的大电压,这个很好理解,击穿或者雪崩的崩溃方式华丽得一B 。然后是长期的高温的影响,对于内部连线的影响,最大的瓶颈在于Electromigration(以下简做EM),怎么说的呢?金属为什么成为良导体的原因,高中有教过,因为金属中存在自由移动的电子,电子的移动就行程了电流,而除了电子之外的金属离子则成为保持金属固体的框架的存在,然而,在长期大密度的电子风暴席卷导体的时候,这些金属离子就开始呈现不稳定的姿态,有些就被剥落然后被电子风暴卷走了,久而久之,固体框架凋零,直至某一天断路!好酷,有没有觉得,%>_<%!这种现象很难被分析,所以我们用一个Black’s Equation来概括,验证金属导线的可靠性!

    这个就是公式,左边的MTTF是mean time to failure的简写,也就是大概的会断路的时间,右边A是导线在连线中的位置参数,想必,不同的位置,比如折角或者导线中间,会被电子风暴吹走的几率不一样。J是电流密度,k为波兹曼常数(又出现了,你好你好!),Eα是激活能量,这个看材料。而T,很显然就是温度了。这也就是我们要做好半导体散热的最初的原因了。
    好,这个番外篇到这里差不多就告一段落了,大家爽不爽呢?正如Asuka之前所说,半导体是个复杂的东西,所以才会被我们利用,成为了电路的材料,而也正是这一种复杂性,让我们很难把握现象背后的真实。而正是大家来到PCEVA的原因,接下去,我们还将继续为大家揭开一个个真相,或者,最起码,为大家提供充足的资料,让大家可以各自判断,而不是被蛊惑或者洗脑。希望大家可以一起enjoy这个有趣的绝对领域。

Asuka小讲堂开讲啦!之一:摩尔定律                 http://bbs.pceva.com.cn/thread-40293-1-1.html
Asuka小讲座之二:CMOS性能与制程上                 http://bbs.pceva.com.cn/thread-40527-1-1.html
Asuka小讲座之三:CMOS性能与制程中                 http://bbs.pceva.com.cn/thread-40803-1-1.html
Asuka小讲座之四:CMOS性能与制程下                 http://bbs.pceva.com.cn/thread-41263-1-1.html
Asuka小讲座之五:超线程技术通识                   http://bbs.pceva.com.cn/thread-43263-1-1.html
Asuka小讲座之六:光刻技术简介                     http://bbs.pceva.com.cn/thread-45031-1-1.html
Asuka小讲座番外篇之集成电路发热的微观研究        http://bbs.pceva.com.cn/thread-45623-1-1.html
Asuka小讲座之七:光刻技术进阶篇                        http://bbs.pceva.com.cn/thread-45759-1-1.html

本帖子中包含更多资源

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x

评分

参与人数 2活跃度 +70 收起 理由
overthink + 20 很给力!
royalk + 50

查看全部评分

2#
casper2003 发表于 2012-5-19 13:02 | 只看该作者
收藏了,顶一下
3#
wsy2220 发表于 2012-5-19 13:08 | 只看该作者
嗯,认真看完了,回头用热力学分析一下
4#
大D来了 发表于 2012-5-19 14:02 | 只看该作者
好多精华
5#
royalk 发表于 2012-5-19 14:13 | 只看该作者
SiGe的导热系数竟然只有8。。可以和硅脂一比了
6#
overthink 发表于 2012-5-19 19:15 | 只看该作者
INTEL什么时候能把Ivy Bridge的被子扔掉
7#
ggxuelei 发表于 2012-5-19 21:43 | 只看该作者
本帖最后由 ggxuelei 于 2012-5-19 21:45 编辑

表示从第二段开始就腾云驾雾看不懂了。。不过还是非常感谢

3D晶体管尽管如期减少了漏电流,却又制造了热传导的困难?
8#
windcut 发表于 2012-5-19 22:09 | 只看该作者
不太懂  倒是还要支持一下
9#
mvp1155 发表于 2012-5-19 23:03 | 只看该作者
慢慢看 雖然有些看不懂 --
10#
Asuka  楼主| 发表于 2012-5-20 00:05 | 只看该作者

RE: Asuka小讲座番外篇之集成电路发热的微观研究

ggxuelei 发表于 2012-5-19 21:43
表示从第二段开始就腾云驾雾看不懂了。。不过还是非常感谢

3D晶体管尽管如期减少了漏电流,却又制造了热传 ...

嗯  也是如期地遭遇了热传导的问题
11#
破天 发表于 2012-5-20 00:22 | 只看该作者
看不懂,能通俗的解释一下E0步进的3770K为什么比E1步进的3770K发热低吗?
我没有这个CPU,但是看到别人超频来看,E0步进的更能超,楼下的达人们不用急着告诉我影响因素有很多了
12#
Asuka  楼主| 发表于 2012-5-20 00:32 | 只看该作者
破天 发表于 2012-5-20 00:22
看不懂,能通俗的解释一下E0步进的3770K为什么比E1步进的3770K发热低吗?
我没有这个CPU,但是看到别人超频来 ...

的确   这个其实仍然没法解释   这种仿佛突变一般  甚至同时还是倒退式的演进   真心让人觉得难以理解
13#
dakarr 发表于 2012-5-20 08:40 | 只看该作者
intel顾此失彼?
14#
Asuka  楼主| 发表于 2012-5-20 09:08 | 只看该作者
dakarr 发表于 2012-5-20 08:40
intel顾此失彼?

与其说是顾此失彼  不如说是早有预料  学术界很早就知道会有副作用    Intel也肯定不会不知道   所以才会用硅脂嘛    既然热压根传导不出来    不如就节省一点成本好了
15#
ggxuelei 发表于 2012-5-20 09:10 | 只看该作者
感觉ivb该比snb更便宜才合理
16#
张建荣 发表于 2012-5-20 19:39 | 只看该作者


。。。。。 又学习了
17#
aican 发表于 2012-5-21 19:21 | 只看该作者
感觉公式那些地方就是在看天书啊。。。。
18#
c592997 发表于 2012-5-22 09:38 | 只看该作者
太强大了,稍微明白点了,支持这样的佳作
19#
glaygle 发表于 2012-6-4 09:09 | 只看该作者
本帖最后由 glaygle 于 2012-6-4 09:13 编辑

爱好者表示看了光刻技术进阶篇还能理解,看了集成电路发热的微观研究后,我懵了。
高能粒子对物体的轰击会造成组成物体的粒子的电离这个,看Discovery Channel多了就能理解
20#
YDestinyD98 发表于 2012-8-4 20:09 | 只看该作者
很难懂...
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

快速回复 返回顶部