http://wenku.baidu.com/link?url= ... VeWvbT13Z-ZJNvSIuie
看了百度的一个文章,原因可能是这样的笔者在Samsung网站看到了这样的计算公式:MTBF=测试时间×样品数÷失效样品数。 在计算公式下方,Samsung公司还说明了相应的测试方法:测试时间为72小时,样品数量为120件。 既有公式,又有测试方法,给出的结果应是无可挑剔了。但是,为何实际的故障率远远超出硬盘制造商提供的数据呢? 为了把这个问题分析透彻,让我们先回过头来观察所显示的硬盘故障规律:硬盘在使用初期的故障率是比较低的,如果此时在实验室对新硬盘进行测试,所获得的失效率当然很低,计算出的MTBF时间也就比较长。而卡内基梅隆大学两位学者的数据来自为5年间的实际工作环境,而从第2年开始,硬盘的故障率已比第1年提高了3-4倍。两相比较,测试时机不同,测试环境不同,获得的结果自然不同了
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