PCEVA评测室已经进行过OCZ TR150、浦科特M7VC、雷克沙S100、西数绿盘、金士顿A400等型号固态硬盘的耐久度测试，他们的共同特点都使用SATA接口。现在我们有机会对M.2 NVMe类型的先锋SE20 PRO进行耐久度测试。
我们现在有1TB和512GB样品可进行测试，考虑到SE20 PRO的固件会在闪存磨损达到一定程度后变更为固定SLC模式，并且在这种状态下两种容量型号的写入速度基本一样，使用512GB测试的效率更高一些。
本次测试的方法同过去大致相同，都是在无文件系统的条件下用IOMeter进行8MB顺序写入（QD=1）。考虑到NVMe协议定义的SMART信息并不包含闪存擦写次数信息，采用顺序读写的测试方式可以使写入放大率尽可能地接近1，即闪存写入量与主机写入量比较接近。
测试过程使用HDTach监视温度信息，并记录每日SMART数据变化。
由于固定SLC模式下的缓存容量较小，测试过程的写入速度相对平稳。当前阶段的顺序写入速度大约为533MB/s，如果后续一直保持这个水平，每天大约可产生相当于90倍全盘容量的主机写入量。
先锋SE20 PRO 512GB的官标写入耐久度为300TBW，我们计划将其作为第一个测试节点。当测试目标盘的主机写入量突破300TBW后，格式化全盘并填入预先准备好的测试文件（记录MD5值），执行高温烘烤以模拟长时间断电保存的情形。烘烤结束后，通过软件复查盘上文件的读取速度，并进行MD5数据完整新校验。通过之后才会继续下一阶段的写入测试。
这个测试不仅会考验闪存的耐用程度，同时还检验主控及固件的纠错能力和闪存状态管理能力。PCEVA评测室会持续更新测试进展，欢迎关注。
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