本帖最后由 Essence 于 2016-4-5 16:24 编辑
早在2015年的台北国际电脑展上浦科特就已经展示过使用TLC闪存的M7V固态硬盘，经过对固件的不断调教与完善，浦科特已经有信心将TLC闪存的耐用度保障到2000次擦写（约2倍于均值）的水平。
本次我们拿到了浦科特M7V的512GB版本，包括2.5寸SATA接口与M.2 2280两种规格，首先进行2.5寸SATA接口的评测。
从M7V开始，浦科特将启用全新的产品型号命名规格，除了以往的容量和代表定位的P、S、V后缀之外，新的型号还将具体区分SATA、PCIe接口和具体产品规格如2.5寸、M.2 2280、PCIE插卡等。
如上表所示，PX-之后两位/三位表达产品容量；M后方一位数字表达产品世代；接下来的Code3字母表达产品定位序列，P系列定位高端、S系列为主流、V系列为性价比；Code 4是可选项，SATA接口产品此处空白，PCIe接口产品此处为小写字母e；Code 5表达物理规格，2.5寸9.5毫米厚度用A表示、2.5寸7毫米厚度用C表示、2.5寸5毫米厚度用D表示、M.2 2280单面布局用G表示、M.2 2280双面布局用8表示、PCIe插卡形式用Y表示；Code 8为附加位，比如前段时间评测过的M6S Plus如使用新命名法表达里就是PX-XXXM6SC+。
按照浦科特新的型号命名规格，此次评测的2.5寸SATA版浦科特M7V的具体型号命名就是：PX-512M7VC。
浦科特M7V的外壳基本上继承了M6V胜利红版的风格，在M7V上保修标贴相比以往产品进一步变小，防拆功能不变但对外观影响变小，产品整体显得更加精致，这是一个细节上的进步。固态硬盘虽然不是工艺品，但作为消费电子产品，对外观设计和品质感的愈发重视也是最近几年的一个趋势。
拆开外壳可以看到浦科特M7VC使用了完整尺寸的PCB板，背面四颗闪存颗粒，整个PCB板通过四角的四颗螺丝固定在另一侧外壳之上，螺丝紧固也确保了另外一侧主控表面导热贴与外壳的良好接触。
PCB正面有另外四颗闪存颗粒以及主控、DRAM缓存。闪存颗粒来自东芝，编号为TH58TFG9UHLTA2D，TSOP封装，属于东芝15nm TLC闪存，16K page，4 Die封装、单颗容量64GB，8个颗粒组成512GB容量。不同于常见的TLC闪存SSD，浦科特M7V并未扣除二级OP容量来改善耐久度表现，这也体现出浦科特对固件纠错算法的信心。
浦科特M7VC 512G使用Marvell 88SS1074主控，搭配两颗共768MB容量外置DRAM缓存（512+256）。Marvell 88SS1074主控最早发布于2014年，由于Marvell只提供了主控硬件，配套固件需要SSD制造商自行研发，SSD主控及固件的研发及验证远比很多人想象中要更加复杂与耗时，因此Marvell 88SS1074主控搭配TLC闪存硬件方案直到最近才趋于完善。
Marvell 88SS1074主控是Marvell推出的第五代SSD控制器产品，使用28nm工艺制造，支持Marvell第三代NANDEdge纠错、低密度奇偶校验（LDPC）技术，可充分满足TLC闪存对于纠错和可靠性的需要。关于LDPC纠错提升SSD耐久度的内容可参考固态硬盘采用LDPC纠错码介绍。
测试平台及信息识别
测试平台：
CPU：Intel Core i5 6600K@4.5Ghz（所有CPU节能特性关闭）
主板：技嘉Z170X-UD3
内存：芝奇DDR4 2800Mhz 4G*2
硬盘：金士顿HyperX Fury 240G（系统盘）
浦科特M7VC 512G（FW：1.0）
系统：Windows 10 Pro 1511,10586
驱动：系统默认Storahci
CrystalDiskInfo信息识别：
M7V和浦科特其他产品的SMART定义基本一致，但需要指出的是在初始1.00版固件当中， F1、F2项数值不再需要除以32，而是直接以GB为单位显示。CrystalDiskInfo按照浦科特以往SSD定义惯例计算主机读写量，因此统计得出的主机读写量会比真实值小32倍。
基准测试
基准测试1：TxBENCH测试
由于应用了SLC Cache，浦科特M7V在Txbench测试当中可以达到500MB/s以上的写入速度。SLC Cache容量约7GB，SLC缓存之外的持续写入速度平均约为190MB/s。
基准测试2：PC Mark 7测试
浦科特M7V 512G的PC Mark 7测试成绩与之前评测过的M6S Plus 512G非常接近，当然M6S Plus 512G的表现也不算太好。在相对轻负载的PC Mark 7测试当中M7V表现还是可以肯定的。
基准测试3：PC Mark 8测试
浦科特M7VC 512G的PC Mark 8存储测试评分为4938，符合入门级定位，并没有因为大容量而获得媲美主流级的表现。
进阶测试
进阶测试项目1：4KB QD1 ~ QD32的 随机读写理论测试
此测试目的是为了试探SSD的并发优化程度和IOPS封顶数值。测试方法是全盘快速格式化后用Iometer 1.1 （Pseudo随机数据模型）填充满全盘LBA，然后测QD1 ~ QD32的读取数值，每项1分钟取平均值。写入部分则是全盘格式化后生成8GB LBA测试块。
进阶测试项目2：4KB QD32 随机写入离散度测试，时间5000秒。
测试方法是全盘快速格式化后用Iometer 1.1 （Pseudo随机数据模型）填充满全盘LBA，设置4KB QD32 ， 4KB分区对齐，随机写入100%，1秒记录一次采样，5000个采样一共5000秒。
最后500秒平均IOPS为2055。
进阶测试项目3：PCMARK 8扩展存储测试之性能一致性部分（稳定态家用环境性能）
这个测试主要是给家用最恶劣环境下的性能参考（全盘不留任何剩余空间，禁用了Windows文件系统缓存跑纯RAW模式）。
浦科特M7VC不适宜用于重度使用环境。
总结：
作为浦科特的首款TLC闪存SSD，M7V的读取性能表现良好，重写入负载下的表现较为一般，未来通过固件更新可实现的进步空间依然很大。M7V的一个亮点在于它使用的Marvell 88SS1074主控支持比BCH码更好的LDPC纠错，在高级纠错功能的帮助下M7V有机会达到双倍于TLC常规耐久度的2000次擦写循环，我们也准备在稍晚些时候对浦科特M7V进行耐久度测试。
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