探秘Intel SSD验证实验室

King! · 发表于 2015-7-2 21:21

Intel相对还是很严谨的，至于8M，应该是设计初期架构上的缺陷，没能彻底修复实在是有些遗憾，但并不妨碍Intel SSD的伟大！
（好吧我承认我是Intel忠粉）

rocketeer · 发表于 2015-7-2 23:46

請問能給個原文地址嗎？

111alan · 发表于 2015-7-3 14:37

lacsiess 发表于 2015-7-1 16:28
我有个问题~~~这么严苛的测试怎么8M门就是解决不了呢?

坏一般都是8M，所以只要把8M的概率减小到别的盘坏的概率的几十分之一...人家还是会说你8M→_→

尤其是什么时候会8M可以了解(规避)的时候

shuijingye · 发表于 2015-7-5 20:03

这就是i家有这么强的售后底气原因吧

neeyuese · 发表于 2015-7-5 20:07

只要把返修率控制在一定百分比之内，那么保修条款订的牛一点也无所谓，说到底就是品质过硬还怕换新？

levelgo · 发表于 2015-7-6 08:58

对于高耐久度SSD来说，为了进行闪存耐久度测试，一般简单的写入测试需要数月以至于一年以上的时间才能将闪存磨损到可发生失效的状态。由于磨损均衡算法的存在，简单的限制写入测试LBA范围无法达到加速耐久度测试的目的。为此Intel开发出一种新的加速测试方法，通过对固件的小改动，使其仅对每个闪存边缘的一小部分存储区域（上图中红色所示）进行寻址。由于移动和封装过程导致闪存的边缘位置是最容易失效的部位
==========================================================================================
那么是不是可以开发一种固件，使其仅对闪存的中间部分进行寻址，从而增加耐久度呢