换个角度看SSD耐不耐操

早几天在专区看到某位坛友发了个帖子，认为SSD还不如HDD耐操。原帖地址：
http://bbs.pceva.com.cn/thread-52890-1-1.html

这位坛友结论的根据，来源于他对电脑进行超频后，在进入系统的一刻因为电脑不稳定而导致死机，这样死机再重启的情况，在重复了数次后，系统文件出现无法修复的损坏而导致他要重装，而在他在使用HDD时，即使遇到更多同样的情况，他都没有碰到需要重装系统的情形。因此他便产生了SSD相比HDD来说，是不是更不耐操的疑问。

我先给大家看一张图：

这是一张浦科特M2P的CDI信息截图，注意SMART信息中高亮的一项，那是SSD异常掉电计数，可以看到数值是非常夸张的2566次，我们再对比下上面的通电次数，是3049次，也就是说这块M2P每通电10次，里面至少有8次以上会出现异常掉电。不过看看05那项，1个重映射都没有，可以说这块M2P现在还是杠杠的。

在那个帖子后面，从R大跟那位坛友的讨论中，大家会发现，他的情况是由于超频内存失败而引起的。而R大在8楼的回复也有提到，他有碰到过各种因为对硬件超频失败，导致系统完全损坏的情况。我现在就给大家揭开上面那幅CDI截图的谜底，这个M2P，正是R大常用于测试平台安装系统的SSD，那个夸张的意外断电次数，其实就是因为R大进行各种超频测试失败死机而死机，所引起的掉电次数太多了。经过这么夸张的意外掉电，这块M2P依然没有出过任何问题，我想说，总不能说它不经操吧？！

我跟R大沟通所知，他的经验上，对于因为超频失败而导致操作系统最终整个挂掉到必须重装的情况，其实SSD和HDD是差不多的。那前面那位坛友的情况又如何解释呢？

以我目前对SSD的了解，我认为其中的原因有以下这些，首先当时那位坛友是正在进行内存超频，从我跟R大的沟通和我自己的经验，超频内存失败，是最容易导致系统出问题的，当中最严重的自然就是系统崩溃需要重装。

然后相信现在大家对于SSD和HDD的性能差距都有了相当了解，那么我们可以推导出一种情况就是，相同的时间内，SSD可以操作的数据，肯定比HDD要多。当进行内存超频失败导致死机，理所当然是内存超频后不稳定才会失败，而内存也是用于存放数据的，内存不稳定的情况下，里面的数据准确及完整性自然也难以保证。

在进入操作系统时，硬盘（SSD、HDD）跟内存肯定是在进行繁忙的数据交换，从上面说的我们能推理出，当进行内存超频时，数据在内存里时，就很可能已经出了错，如果这些出错的数据被写入回硬盘，而这些数据又是操作系统的关键数据，后果大家可想而知。SSD因为性能更强，当时同样时间内处理的数据量肯定比HDD要多，因此某方面来说，自然有更大的机会写入了错误的数据。

关于SSD和HDD，在PCEVA了解过一些SSD知识的网友都应该知道，SSD比HDD多了一个叫FTL的东西，我简单给还不清楚的网友普及下，FTL就类似一份仔细标明每个人所在的地图，SSD必须要靠这地图才能找到具体的某个人（数据）在硬盘里的什么地方。如果这地图出错了，SSD就没有办法找到正确的人了。而当SSD里的人位置变了，但这个地图没有正确的更新，SSD也没法找到那个人了。所以如前面的情况，SSD在读写系统数据时遇到意外掉电（进入系统时死机），即使系统数据本身没有出错，但若FTL没有正确的更新，自然也会跟数据出错出现相同的情况，因为没有办法得到正确的数据了。

不过不管怎么说，一款成熟、质量可靠的硬盘，即使操作系统崩溃了，也只应该是部分有关的数据出现了损坏或丢失，其它数据一般还是安全的，也就是如果把硬盘接到其它电脑作为从盘，我们还能把未损坏和丢失的数据拿出来。

现在我借用两张浦科特工厂的照片，跟大家介绍下厂家是怎么保证SSD品质的。

看到白色的那台机器上面的牌子了吗？锡膏检查机 SPI，用我们的叫法应该是焊锡检查机，用来检查SSD的PCB上各种元件的焊锡有没有问题。


大家还记得浦科特M3系列SSD最新版固件修正了什么问题吗？
其中一个就是“改进联想Lenovo电脑平台的兼容性问题”，看看上面这堆笔记本电脑，就是经过不单只是台式机平台，连各种笔记本平台都同样进行严格的兼容测试，浦科特才真正把跟联想笔记本电脑平台上出现的兼容问题给解决掉。

另外看过浴室以前文章的都知道，浦科特的SSD每个在出货前都肯定会在FlexStar的高温老化测试设备里测试，没在这个‘烤箱’用60度的高温‘烤’过，是不能出货的，各位可以想想，我们就是散热环境再杯具，有谁能把机箱环境弄到60度？

除了高温老化测试外，数据完整性测试、兼容性测试、微软认证测试等等自然也是必不可少，一定要通过的。

兼容和微软认证估计大家都明白，那什么叫数据完整性测试呢？

这测试就是指SSD在经过意外掉电、高低温环境、闪存颗粒标称耐久度使用完毕，甚至闪存颗粒出现漏电后，SSD内的数据是否完整，如果不达标，就不是合格的产品。

罗罗嗦嗦了这么一堆，其实我就想说，SSD耐不耐操，不应该只简单的看到它在我们折腾超频失败时，似乎容易让系统挂掉就说它不耐操，不耐操的SSD，不只是系统会挂掉，恐怕是会让你去享受厂家的售后服务了。

如果大家觉得我这里有什么地方没说清楚，或者你有不同意见，欢迎回复指出，我们可以一起讨论研究。

浦科特的SSD，跟联想本本的兼容性还是可以的，之前出兼容问题的情况也只是很轻微，所以6楼不用担心这个。

SSD虽然从理论上面来说寿命不如HDD，但以实际情况来说的话，都肯定足够普通用户正常使用而不必担心，不过始终算比较新的硬件产品，让普罗大众都接受，还需要再多点的时间吧。

另外8楼的问题，以我现在了解的，兼容测试并不简单，工厂肯定有专用的测试程序来进行测试，不过本本上运行测试程序肯定就是要人工来进行了，其实我倒不认为测试员很幸福，这活应该不会很轻松，虽然能碰这么多本本，确实可以对外人自豪，不过测试员对这些本本的了解，我怀疑可能还不如一个普通用户，毕竟他只是负责测试和报告测试结果，不可能给他玩这些本本。

至于9楼10楼的问题，并不容易说清楚，但要知道SSD的缓存主要并不是用来放数据的，当然我帖子里说过，相比起HDD，SSD的FTL确实是多了一个危险因素，但各个厂商都会在固件内针对这些情况设计机制来保证足够的安全性，我主楼后面提到的数据完整性测试就是用户验证这些相关机制的，我并不是RD，无法说得很清楚，但目前像浦科特、美光等等这些主流口碑较好厂商的SSD，用户并不需要担心这个。至于说寿命问题，浦科特的TS确实是采用了较激进的GC来达到维持性能的效果，但以普通家庭用户一般使用的环境，我认为根本无需担心这个。之前本区也有人转载过老外对SSD耐久度研究的帖子，浦科特的M3P颗粒寿命基本达到官标2倍以上，所以寿命方面是没问题的。

qianjizhao 发表于 2012-7-25 22:17
另外看过浴室以前文章的都知道，浦科特的SSD每个在出货前都肯定会在FlexStar的高温老化测试设备里测试，没 ...

我对本本确实不太了解，请问你是如何确定在本本内，硬盘附近的环境温度超过60度的？

回应17楼的坛友，笔记本硬盘位表面和内部温度温差达20度，我觉得有点不可思议，以我所知，本本硬盘一般应该都是紧贴着外壳放的，热量传递的速度不会很低，我不认为会有这么大的温差。

至于18楼所说的，我曾经在HKEPC那边看到过跟你这几乎一样的理论，缓存越大，会存放的用户数据也越多。我会说你们恐怕都把SSD固件看得太简单了，究竟利用多大的缓存空间作为用户数据缓存，我不会认为跟缓存容量有一定的关系，具体要看固件如何设计，而且只要低级的固件设计才要靠增加用户数据缓存来提升‘性能’，真正做得好的固件，并不一定要使用这种手段。

至于寿命，如果我再说，如果让颗粒休息，颗粒寿命会获得一定程度的恢复，你又怎么看呢？我不清楚你是否有仔细看过浴室那篇关于TS技术的帖子，不过浴室在里面说得很清楚了，TS就是一种完全针对普通民用环境的技术，在为用户带来最佳使用体验的情况下，又不至于严重影响SSD的使用寿命。另外关于你放的这个ANAND的测试图，我暂时会说，目前我已经不参考他们的SSD测试，因为我觉得他们的测试已经不够公正。这个图虽然不是全无参考价值，但价值真的不大。

以我目前所了解，ANAND那个WA数据，很可能只是用很粗略的计算方式获得，而且他们本身也没有说明过具体怎么得出，我只能说，这种数据的参考价值真的很小。

RAID卡算法和SSD算法并不能相提并论，如果认为它们表面看起来很相似就认为差不多的话，我觉得那就会非常容易的踏进误区了。RAID卡我了解不多，但SSD的固件算法极为复杂，有很多地方不是RD，根本很难了解得到，我对SSD的了解也只是很肤浅的一部分而已，我认为如果我们先入为主的坚持某些固定的观点，那我们就很可能没有办法去更深入的正确了解各种SSD的特性，可能有的SSD非常依赖缓存颗粒容量，也可能有的并不依赖缓存甚至不需要缓存颗粒，但即使是必须使用缓存的SSD，我们现在也没有办法完全知道某款SSD究竟是怎么利用这些缓存的。如果看到某些相似的硬件搭配，就认为必定是某种设计，我认为这样只会令我们无法真实的去了解这款SSD。

另外我再说一下吧，关于WA的一些研究，浴室也在进行中，我们不妨等他的下一篇大作，一起学习学习。

cocker 发表于 2012-7-26 09:33
你没数据支持，我也没数据支持，厂商也不给数据，我们都是在猜测缓存的行为，何必说谁进入了“误区”呢？ ...

我前面文字表达得不太好，可能让你产生误会，这个抱歉，我修改了下。

不过我这里想再强调的是，马牌主控的SSD，必须要使用外置缓存，里面有部分容量作为用户数据缓存这一点也是无疑的，但用户数据缓存的尺寸，视具体算法都肯定不同，甚至有些允许关闭数据缓存不用，但有些则不可以（这里指类似SF那样系统内关闭，但不生效的情况），所以如果简单的认为使用的缓存颗粒容量越大，用户数据缓存的尺寸肯定越大，这是不妥的吧？我的态度并不是要否定这个论点，可能我之前表达不好，我要表达的意思其实是，不可一概而论，需要每个品牌甚至到每一款SSD来具体分析研究它的特性。

至于ANAND的那个写放大数据，暂时以我跟浴室沟通所得，参考价值真的很低，理由其实我前面说过，我这里要再详细补充的就是，假如那数据获得的方法确实如我们目前所猜想的，那这个数据首先精确度相当低，然后虽然能让专业人士用来作为了解SSD特性的其中一个参考数据，但我们这些普通用户如果直接把它跟寿命联系，就等于提出‘浦科特的SSD是5年保，那我用到第6年是不是一定会坏？’这问题一样，任何人都无法给出答案。

还有关于你说Intel有给出参数让我们了解写放大，不知道你说的是哪一款以及具体哪几个参数？如果是330、520这些SF方案的，我估计你说的数据也不是SF故意放出，而是没有刻意完全隐藏掉，因此我们才能从某些数据变化上，研究得出那些数据可以用来大概的计算盘当前的WA。

至于这些数据要不要公布出来，这就是由各个厂家所决定的了，SF的算例外，SF则是由SF公司决定是否提供这些数据。

wowotang 发表于 2012-7-26 09:51
记得以前有结论吧，说是ssd在非正常使用环境下，会比hdd受伤害更大。
因此相对不耐操。 ...

不清楚你从什么地方知道这个结论的呢？我在这边钻研SSD这么久，还没听说过有这种结论哦。

非正常使用环境，这个范围非常广，我相信无论任何硬件，在它设计要求以外的环境使用的话，肯定都不可能耐操或者不好用，更甚至无法使用吧。因为本来就不是设计成被那样使用的啊。

kinno 发表于 2012-7-26 10:49
007，intel的520和330的写入放大可以精确从smart读出，toolbox就能看
http://we.pcinlife.com/thread-19471 ...

哈哈，果然说的520么，SF盘应该都有这2个数据，也就是说都能大致的计算WA，但也只是一个大概的数据，实际的WA不是这么轻易能计算出来的，我目前所知也仅是，计算精确的WA，会涉及非常复杂的计算方式和很多相关数据。

在我来看，普通用户如果确实关心自己的SSD寿命还剩多少，直接参考官标剩余寿命数据会更直接和方便。这些相对更详细的数据，还是属于我们这帮爱好者才会关注的。

cocker 发表于 2012-7-26 13:29
同样，我再贴一个intel ssd根据SMART中的E2来计算写入放大的例子：
http://www.tomshardware.com/reviews ...

这么说吧，Intel确实是有提供相关数据给用户自行计算WMI的消耗和自身使用环境下的WA，但它针对的其实并非我口中说的民用环境用户，而是商用、企业用户。我解释下我口中的民用环境，指的是一般的家用和公司办公室电脑的使用环境，并非特定的工作站或服务器的使用环境。

在非民用的特定使用环境，数据类型和应用都是比较一致，并且变化不大的，因此用你说的方法，用户可以自行参考判断SSD的寿命及WA是否适合自己的需要，如不适合，再进行针对性的措施改善。

但在我说的民用环境下，数据类型和用户的应用变化因素极多，就算用上面的方法来计算WMI消耗和WA，也需要非常长的时间来收集数据素材才可能最终得出比较有参考价值的数据，而且若用户之后突然大幅改变使用习惯，那前面得到的这些数据，参考价值就几乎都没了，要重新来收集计算过。如2个用户之间使用习惯有相当的差异，那这些计算得出的数据也是不通用的。

ANAND那个图表，计算方法没公布、测试方式也没公布，说的话差不多就像OCZ在FACEBOOK说的那句信者恒信一样，正是因为我说的这些原因，让我认为那个WA图表没有什么参考价值。