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浴室谈SSD系列十三:原厂“特挑”果然不一样,m4无敌耐久度

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dvcam 发表于 2012-7-8 11:56 | 显示全部楼层
本帖最后由 dvcam 于 2012-7-8 12:21 编辑

"xtremesystems论坛一共测过2块m4 64GB SSD,而且2块都坚持到了10000 P/E以上,其中第一块死因是由于测试者妻子住院生产,家中电脑关机9天,造成高磨损度下的SSD因为NAND漏电,导致上机时数据出错超过ECC纠错能力,无法补救造成SSD不识别...."

“对于一颗25nm的MLC SSD来说,这个指标是无法想象的华丽,超出官标3000 P/E整整3倍多的耐久度。”

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根据这个测试结果,M4 64G颗粒的确不错。但浴室说超出官标3000 P/E整整3倍多,还是值得商榷的

10000 P/E以上,9天数据就挥发了,也算是PE早已用完了吧?
按照P/E用完的标准,是数据断电能保存1年(应该也是官标3000 P/E的标准。厂家实际测试当然不是放一年,而是用高温短时间来等效常温长时间存放,等效时间有公式可以算的)。

感觉XS这个实验可以改进一下,就是断电1~2天的时候,把SSD放在高温(60~90度),这样高温1~2天,估计能相当于常温几个月,这就更接近实际情况(或者说是标准测试条件)了。但这样测试,估计很多SSD都会挂的比较快
2#
dvcam 发表于 2012-7-8 16:31 | 显示全部楼层
qzwalter 发表于 2012-7-8 14:43
数据挥发应该是跟通电时间有关系而不是P/E吧。。个人猜测。不懂。求科普 ...

NAND的断电数据保存期限和PE次数有关,和通电时间无关


来源:
http://download.micron.com/pdf/p ... ent_truths_nand.pdf

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3#
dvcam 发表于 2012-7-9 12:02 | 显示全部楼层
本帖最后由 dvcam 于 2012-7-9 12:07 编辑
qzwalter 发表于 2012-7-9 00:03
那个PPT只是说了高P/E下挥发时间会减少。但是没有界定说多少时间数据挥发就是P/E用尽啊 ...


按消费级SSD测试的标准(这个标准XS帖子里也有),是在断电后,数据要求能保存1年

SMART Modular的PDF提到100%PE用完后的保存时间
来源(也是XS帖子里的链接):
http://www.google.co.uk/url?sa=t ... zIuIb4ApIH-Jgj8FgzQ


JEDEC的SSD相关规范

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4#
dvcam 发表于 2012-7-9 12:23 | 显示全部楼层
大厂SSD应该都还是有严格检测标准的,山寨小厂就不好说了。
随着制程越来越小,闪存PE越来越少,数据保存时间似乎也会越来越短?只有靠主控加强校验能力了
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