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i7 3770k开顶盖测温是一个误导

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huilailewo 发表于 2012-5-18 13:18 | 只看该作者

http://news.mydrivers.com/1/228/228298.htm

“但现年50岁的罗瑞德却看到该行业正接近“拐点”,这可能会伤害Intel尖端的处理器设计和先进制造能力的紧密整合。”

““伤害Intel尖端的处理器设计和先进制造能力的紧密整合。””


pop的4楼网友的那个推断太可怕了,几乎是认为22nm3D等同当年让intel总裁跪下道歉的P4的高温了;
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暗黑破坏神三 发表于 2012-5-19 16:49 | 只看该作者
看来专业知识很重要啊,都是高手,我慢慢学
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coffeez 发表于 2012-6-16 20:26 | 只看该作者
royalk 发表于 2012-5-12 23:16
我可没必要为了证明你说的不对而去骗全世界的人
对了,提醒一下你忘记开代理了 ...

耐心翻到17页看完了,真累啊。R大,给你个建议,把2600k开盖,用同样的硅脂,同样的散热器,跟3770k测试温度,就能对比二者核心发热量了。
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royalk 发表于 2012-6-16 20:27 | 只看该作者
coffeez 发表于 2012-6-16 20:26
耐心翻到17页看完了,真累啊。R大,给你个建议,把2600k开盖,用同样的硅脂,同样的散热器,跟3770k测试 ...

26K钎焊的,开不了
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印第安纳琼斯 发表于 2012-6-16 22:45 | 只看该作者
核心和顶盖散热面积的问题,我设想的实验方案应该可以确定:

至于3770K的发热是否更大,测CPU功率即可。

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royalk 发表于 2012-6-16 22:51 | 只看该作者
印第安纳琼斯 发表于 2012-6-16 22:45
核心和顶盖散热面积的问题,我设想的实验方案应该可以确定:

至于3770K的发热是否更大,测CPU功率即可。 ...

现在问题是出在die和IHS的接触硅脂上,不是IHS和散热器底座上,IHS本身是全铜的而且接触面很大没什么热阻。
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印第安纳琼斯 发表于 2012-6-16 23:17 | 只看该作者
royalk 发表于 2012-6-16 22:51
现在问题是出在die和IHS的接触硅脂上,不是IHS和散热器底座上,IHS本身是全铜的而且接触面很大没什么热阻 ...

楼主说问题在于散热面积,所以我这是针对楼主“顶盖加大散热面积”理论的实验设想,两组实验唯一的区别就是接触面积。如果楼主理论是对的,那温度将有明显差别。
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royalk 发表于 2012-6-16 23:19 | 只看该作者
印第安纳琼斯 发表于 2012-6-16 23:17
楼主说问题在于散热面积,所以我这是针对楼主“顶盖加大散热面积”理论的实验设想,两组实验唯一的区别就 ...

他的理论没错,但实际上并不是那么回事
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wszd 发表于 2012-6-18 12:02 | 只看该作者
真实的散热面积是应当并且只应当计算 热源本身与外部接触面积  怱略底部的PCB板(热阻较大),那么一颗IC最大可能存在的接触面积只有上表面及四个侧面而己。
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