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开盖有奖?实测Core i7-3770K开盖后温度变化情况

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zhtlove 发表于 2012-4-27 20:25 | 显示全部楼层
这种测试不是十分严格的。die的面积比顶盖要小,拆掉顶盖之后肯定会影响散热的。严格的对照试验应该在拆掉顶盖之后把硅脂清理干净,然后用intel的焊接方法再把顶盖焊回去,这样才能模拟SNB的情况,才能充分说明IVB和SNB质检的区别。不过这样的焊接对工艺要求很高,可能作为个人来说也不易实现。LZ能做到现在这种程度,已经很不错了。赞!
2#
zhtlove 发表于 2012-4-27 23:02 | 显示全部楼层
royalk 发表于 2012-4-27 20:27
没戏。。我可做不到那样的程度
不过别忘了任何一个介质都是有热阻的,你把顶盖焊回去,热阻肯定要比现在 ...

是啊,这个我理解啊。所以说LZ还是做出了很重要的尝试和探索的。只不过这个结论不是特别严谨罢了。当然,咱们个人肯定做不到那种工业的技艺标准的。我是真的觉得intel是故意的,就是想限制超频幅度。
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