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谈谈DRAM的检测等级(eTT与uTT)

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41#
D9LJJ 发表于 2011-6-8 14:13 | 只看该作者
不过,对于超频玩家来说,颗粒只是一方面,另外PCB也是很重要的,PCB不好,再好的颗粒也发挥不出来------------原来PCB这么重要
42#
predatorsxx 发表于 2011-6-15 15:15 | 只看该作者
学习了~
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sean227 发表于 2011-12-15 12:53 | 只看该作者
学习了,谢谢lz分享
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黄鼠狼 发表于 2011-12-15 14:49 | 只看该作者
天朝何处不见ETT UTT
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chensdpt 发表于 2011-12-16 00:05 | 只看该作者
好文章,学习了!
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tiejun 发表于 2011-12-16 09:53 | 只看该作者
飘过,学习了
47#
lishibing1 发表于 2015-1-1 21:08 | 只看该作者
根据未证实权威性的行业标准所说的,Fall Out颗粒的故障率在2-3%,uTT颗粒则要求小于0.5%,而eTT颗粒要小于0.3%。当然这不能直接参考返修率,毕竟内存出故障未必全是颗粒的事。
你这个是单颗芯片的故障率?

即使不考虑PCB、焊接等 内存条的工艺因素,只计算颗粒因素的故障率。
一根内存8颗、16颗芯片, 该内存合格率=单颗合格率8次方、16次方,这种结果太恐怖了吧。。。。。 有点无法相信
等级颗粒合格率单条16颗合格率故障率双条合格率32颗故障率
eTT0.997 0.953065 4.69%0.908333 9.17%
uTT0.995 0.922931 7.71%0.851802 14.82%
Fall Out0.975 0.666920 33.31%0.444783 55.52%

或者说内存条厂商还会在芯片采购后检测一次,剔除不合格颗粒,然后在内存生产完成后再进行一次检测,剔除不合格内存条?
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