美国研究团队提出鉴别假冒闪存方法

芯片造假，尤其是用回收闪存芯片冒充全新的情况已经引发了全球广泛关注，来自阿拉巴马大学亨茨维尔分校的研究团队最近在IEEE硬件导向与信任国际研讨会上展示了他们的研究成果。

阿拉巴马大学电子与计算机工程系助理教授Biswajit Ray博士说，消费电子产品使用周期可能只有一年，但其中的组件可能会“活上“十年之久。拆解回收报废的印刷电路板并假冒新部件带回市场已经成了公开的秘密。这些假冒部件耐用性有限而容易产生不良影响，但是在利润面前这一产业正不断发展壮大。

造假者越来越精明，让辨别电子系统中的组件是全新还是回收变得困难。闪存芯片用于存储数据，其造假危害性特别高。Ray博士表示，“闪存成为造假的主要目标，它在大多数电子系统中有着广泛的应用。但是检测回收闪存颗粒的方法具有挑战性。”他和他的研究团队提出了一种结合存储器时序特性统计分布与故障位数的组合方法来检测假冒闪存。

此前多数研究人员专注通过闪存失效位数和读写速度来判断芯片新旧、是否经过翻新造假。但新的研究结果表明，闪存写入擦除时间是更好的闪存“年龄”鉴别指标，即便只经过了数个写入-擦除周期，也能检测到显著的延迟增加。研究团队表示，即便闪存在被回收前只使用了3%的擦写寿命，新算法也能准确辨别出它不是全新的。这项技术“价格低廉、无损，无需额外硬件，现在正在对温度和电压变化等因素进行更多测试。”

该团队已经提交了多项专利申请以保护他们的算法，并计划在未来推出智能手机应用程序或浏览器扩展程序来帮助识别假冒闪存芯片。他们并不希望从这项努力中获得个人利益，而更愿意研究发现能够帮助保护国家基础设施的安全：假冒闪存耐用性不可靠，如果在关键应用中出现闪存失效可能回造成灾难性的后果。

tualatin 发表于 2018-6-1 15:40
只写了3%，和新的有啥差距？  不靠谱的团队啊。

只写3%就能被鉴别出来，这恰恰说明了算法灵敏，团队靠谱

tsammammb 发表于 2018-6-1 14:05
实际鉴别的话还要考虑批次的影响吧，还有新的颗粒放置久了也会有影响的

我看图片上他们做例子用的几个闪存颗粒都是SLC或MLC类型，能否扩展到具体每个闪存型号（尤其是新型的3D TLC甚至3D QLC）身上还要研究的。走出实验室进入实用化，还有一段路要走的。

Cogae 发表于 2018-5-31 21:22
这个假如要把芯片拆下来测的话就麻烦了

当前研究阶段所需吧，未来应该是会提供一种不许拆下的方法检测。研究团队说这个技术是可以做到无损的。

tualatin 发表于 2018-6-1 15:46
同一批次颗粒出厂寿命差距3%很正常。那寿命低3%的会不会误判？

这个检测方法研究的不是寿命，而是新旧。只要有磨损，写入和擦除的时间会有变化。至于全新闪存的写入和擦除时间波动范围有没有3%，我不清楚。