高温加速SSD断电后老化的加速系数

看了前几天的高温老化试验帖子，有人疑问，为什么85度烘烤xx小时等于常温x年，为什么40度三个月等于30度一年？
简单扫盲一下。伸手党直接看最底下的表就可以了。

我们知道SSD的NAND单元，是利用保存在FG（Floating Gate）里的电子来保存数据的。SSD断电后，FG的电子，会随着时间逃逸，当逃逸掉的电子数量达到一定程度，这个单元保存的数据就丢失了，如果很多单元的数据都丢失了，超出了主控纠错能力，那么SSD上的数据就丢了。电子逃逸这个过程在常温下很慢，不过高温可以加速这个过程。
按规范，消费级SSD在PE用完后，要求数据在30度保持1年。不过1年实在太久，测试不会等一年来测，都是用高温加速模拟这个过程。
加速系数，利用下面这个公式来计算（其实就是Arrhenius Equation），注意温度T是开尔文度（=摄氏度+273）。



题外话，还记得几年前Sandisk推出一个号称保存100年的U盘吗？
Sandisk也是用高温加速老化，使用Arrhenius Equation来计算加速系数，用高温模拟‘保存100年’的。
只不过Sandisk的公式里，Ea=1.0ev，这应该是全新没有PE的NAND的情况。按上面那个公式的说明，NAND的PE用完时，Ea=1.1ev



1.0ev和1.1ev算出的加速系数的差别，以30度为基准

1.0ev算出的加速系数小一些，也就是等效高温烘烤时间要更长一些。
这也很合理，PE使用较少的NAND，保存数据的时间更长。PE用完的NAND，保存数据的时间会变短。
Sandisk那个号称保存100年的U盘，要求只写入一次或者很少几次，不能很多次反复写入，不然就保存不到100年了，呵呵。

最后贴一个表，Excel拉出来的，30度为基准，各温度下的加速系数，1.1ev算的。根据这个表，就知道为什么“40度三个月等于30度一年”了。


参考来源：
http://www.eeweb.com/blog/eli_ti ... ash-in-ssd-products
http://forums.sandisk.com/t5/All ... Testing/td-p/245746