本站之前有收到一颗市售T9 128GB的样品，具体图片和简测看这里：http://bbs.pceva.com.cn/thread-125627-1-1.html
众所周知本次T9的卖点之一就是颗粒采用东芝eMLC，虽然颗粒批号均不同：http://bbs.pceva.com.cn/thread-126069-1-1.html
正好趁着过春节回国探亲时间，我通过远程控制测试了此颗SSD的耐久度。（编辑部也过年放假，我远程挂teamviewer测试）
1月7日，测试开始，由于之前做了些深入测试，耐久度消耗到大约。200P/E
1月16日，测试到 1500P/E
1月24日，测试到接近3000 P/E
1月30日，测试到4000 P/E
2月15日，测试到接近6500 P/E
然后编辑部上班了，就让他们进行了高温老化测试，在85度的温度下进行了24小时的老化。这相当于什么程度呢？
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85度下老化360小时，相当于55度下存放1年时间。
我们知道eMLC的要求是当颗粒磨损到官标后（这里按照建兴的说法，假设为10000），可以保证在写入操作55度的环境下（这块SSD的发热大家也有目共睹，基本满足这个要求，掉电前盘内我持续写入了接近90%的数据，CDI显示温度大于55度），40度的环境下要保证数据不出错3个月。理论85度环境下可以保证数据至少存放72小时。（温度每提升15度，保存时间降低大约5倍）更何况我磨损到6500 P/E不到，远未达到官标的P/E上限，保存时间理论会更长。
本想看看老化24小时候速度跌成如何或者有没有坏块，没想到再次通电后在自检时卡住，BIOS里虽然能看到型号，但是HDAT2无法识别，进了系统也找不到SSD了，具体什么情况各位看视频吧。
我测耐久度为通过teamviewer远程控制程序进行8MB持续写入，此程序也并未校验写入文件的CRC，并不清楚写入的数据是否在老化前已经出错。反正我觉得BIOS里既然能识别型号的话，问题还是为颗粒里面存放FTL的数据挂了，对用户来说能勉强识别也然并卵，毕竟数据已完蛋。
另听说建兴当时炒做T9的时候在贴吧有举行测万次P/E送苹果手表的活动，是不是可以给我了....
2月18日更新：
贴吧某些人提到1.18倍写放大，这里解释下，因为耐久度测试程序做的是8MB块持续写，理论写放大接近1，为何大于1，是因为测试耐久度前我做过别的测试，最差时写放大为2位数，然后依靠持续的耐久度测试写入，把平均写放大降了下来。
不掉电的6500P/E根本不能说明问题，m4不掉电还跑到19000 P/E呢，就连MX100 16nm MLC不掉电也可轻松突破8000 P/E大关，相关图片可以参考我之前写的帖子。不掉电的P/E测试不作数这是常识，有效P/E指的是数据能在停电一段时间后（符合标准），再次上机被准确读出，谁都知道只能写不能读是没有任何意义的。
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