对于高耐久度SSD来说，为了进行闪存耐久度测试，一般简单的写入测试需要数月以至于一年以上的时间才能将闪存磨损到可发生失效的状态。由于磨损均衡算法的存在，简单的限制写入测试LBA范围无法达到加速耐久度测试的目的。为此Intel开发出一种新的加速测试方法，通过对固件的小改动，使其仅对每个闪存边缘的一小部分存储区域（上图中红色所示）进行寻址。由于移动和封装过程导致闪存的边缘位置是最容易失效的部位
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那么是不是可以开发一种固件，使其仅对闪存的中间部分进行寻址，从而增加耐久度呢
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