这几天工作忙，今天抽时间看了下，发现有2个错误这里指出下：
1. 那个颗粒内部逻辑图是TSOP封装的(尾号TAx0)PDF里的，所以你那张图里其实是4Die/2CE的，但是东芝的这个颗粒是BGA封装，如你所说是4CE的，这里是错误的配图。
2. 验证Trim的测试部分出现逻辑性错误，原因如下：
首先因为是RAW状态下，也就是全盘无文件系统，因此判定无效数据的情况只能为当前LBA被覆盖。由于SSD有OP空间存在，因此OP容量范围内的数据也可以看做为无效数据或者可用空间，而非OP容量范围内的LBA因为之前被全盘4KB测试3000秒随机写入的数据填盘了（都必须判定为有效数据，SSD主控不能私自垃圾回收这部分数据）。此时不管让SSD闲置多少时间，SSD只会对OP容量内的数据进行垃圾回收，也就是说即使你放1天甚至1周，能够被垃圾回收的最大容量范围为OP容量。
那么为什么每次做HDtune写入测试时候（闲置10分钟，闲置30分钟，1小时，5小时），看上去写入性能每次都会稍有提高呢？（平均速度）那是因为HDtune的写入为持续写入，每次测试持续写入性能的写入数据把之前3000秒随机写入的数据给覆盖重组了0。（类似碎片整理）而当主控做垃圾回收的时候，持续数据相比随机数据更容易操作，因此会表现出性能在逐渐提高的现象，但其实这个表现和SSD闲置多久一点关系也没有。
这个错误的测试方法我在2011年底时候有全论坛置顶道歉，链接见这里：http://bbs.pceva.com.cn/thread-32941-1-1.html |
