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关于 fio/IOmeter 测试QD深度与速度关系 和 离散度测试的问题

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neeyuese 发表于 2014-11-21 09:37 | 显示全部楼层
问题1:

需要自动化的话也不难,在test setup那里,Cycling options 里的cycle outstanding i/o 可以选择循环增量,这样的话你只要设置测试块和读写模式,然后在那里设置增量规则,软件会自动测完一轮读写按照规则增加到你需要的QD再测一轮。(具体怎么设置你自己摸索吧,反正我们内部评测都是这样的。)误差这个在所难免,也不会有什么使用环境这么切换QD,因此这个测试一般是用来测SSD每种读写块下的每种QD下的最大IOPS而已。

问题2:

一般来说,现在消费级的SSD和企业级的非PCIe SSD测试时都不太占用CPU,因此Work放1个没什么不好,况且很多软件原本就对多核心CPU支持不好。当然了,如果测服务器环境,例如有双路CPU的,则可以考虑work增加到2个,每个QD设置16,这样就等于总QD32了。企业级PCIe SSD则不同,有些是Host Base的,也就是映射表跑在系统内存,处理占用主机CPU,主机性能影响总体表现,它们自然有另一套测试方法,而且系统也不一定是Windows了,这样的话其实用FIO测更适合,Iometer毕竟功能有限。

问题3:

离散测试的话,在Iometer的新版1.1里,有增加了每秒1记录的功能,测完用excel画表还是很轻松的。

问题4:

这个和问题2道理一样,取决于你的测试目的和主机。

问题5:

你这边有详细测试结果文件么?不过iometer和FIO的测试引擎不同,因此没有直接可比性。一般来说Iometer几个版本之间也会有差异。

问题6:

脚本可以自己做,参照SNIA的测试标准,其实用Iometer测不严谨,用FIO比较合适。简单介绍可以看这里:http://www.snia.org/forums/sssi/knowledge/education

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