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【LV3】最后之作?Haswell/Haswell-R处理器 8/9系列芯片组对比详解

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蒋pj 发表于 2014-10-15 23:24 | 显示全部楼层
INTEL的测试是在晶圆的时候就开始测试了,而不是在放到PCB基板后测试,那些金属点是读取数据的,还有就是INTEL的习惯是用背后的电阻做型号识别电路的,但是INTEL对此是对外一直保密的二期比AMD要复杂,以前的毒龙时代就有改电阻大发将巴顿等U改外频改更高的型号。
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蒋pj 发表于 2014-10-15 23:39 | 显示全部楼层
111alan 发表于 2014-10-15 23:30
intel一般是光刻好了测试,封装以后也会测试。

晶圆的测试才是测试CPU体制的,你说的是封装测试,只是测试CPU封装后就通过那些PCB的金属触电运行是否正常但和处理器体制是无关的。
3#
蒋pj 发表于 2014-10-19 21:53 | 显示全部楼层
111alan 发表于 2014-10-16 00:16
die体质在封装后体质大幅变化不论在flash、ram还是处理器都是很常见的

DIE体制在封装后大幅变化只能说是封装失败了。并不是很常见的,就算有变化:也是体制好的晶圆做DIE在封装后像比较还是好的,而体制不好封装后会更不好。只有在后续工厂提高了DIE的步进时封装后得到的体制和稳定性得到一定的提高。而你说的内存的晶圆也是出厂前就测试好的。好品质的颗粒卖给海盗 芝奇封装厂等去特挑,内存厂最后把特挑出能统一到达某个超频率点的颗粒最后封装在一个内存条后就是我们手中的超频内存;而封装后当然还会再进行这个超频点的测试。反而如果封装后体质大幅变化,达不到只能说明封装失败,要进行频率降级。而INTEL其实已经考虑到了封装的影响,因为在封装之前就会留有20-100%的余量。就是说一个可以达到4G的处理器,为了稳定的前提它封装后会变成3.6或更低的主频。所以INTEL的处理器基本上都有一定超频的可能性。如果工艺好晶圆质量普遍高的情况下或者低端市场需要大,它也会4G的晶圆封装成2.6G等更低的CPU。我们就开始超频了
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