我是做固态存储产品的硬件测试工作,目前我测试到公司设计的一款产品,采用的是LSI的主控下拖几颗Indilinx的Barefoot系列主控的SSD,Flash是Intel的型号为29F64G08CAMDB的Flash。目前测试出现问题,测试随机小数据块写入容易出现SSD掉盘现场,经查SSD的Smart信息,发现是出现了不可纠正的读坏块。如果对SSD重烧Firmware,然后读取Smart信息发现这样的坏块仍然是存在的。请教这样的坏块产生的原因以及有什么好的方法能屏蔽掉这样的坏块。现在这样的坏块能导致SSD掉盘,这个问题影响很大。请教浴室版主是否有什么建议。附上我个人的QQ345623412,如果方便能加我QQ详细指导下。。。。。。。。。。Thanks!
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