本帖最后由 James007ss 于 2013-5-28 18:08 编辑
昨天跟大家分享过新固件在基准测试方面的表现，今天重头戏来了，下面大家将能看到浦科特新固件中GC（垃圾回收）机制的改变对SSD带来的影响。
测试平台：
CPU：Intel Core i5-3470
主板：微星Z77A-G41
内存：AVEXIR AVD3U16000904G-4CM 4G x 2
硬盘：CORSAIR NEUTRON GTX 120G（系统盘）
Plextor PX-128M5Pro
系统：WIN7 SP1 64位旗舰版
驱动：Intel RST 11.7.0.1013
可能有部分坛友还记得，浦科特M5Pro的新固件在我上次对比测试的压力测试曲线图中，显示出波动比较大的曲线，跟旧版M5P平滑的曲线有显著的差异，新固件又如何呢？
这次我同样在对SE（安全擦除）后的M5Pro进行无文件系统的2小时32QD随机4KB写入压力测试，每5分钟1个采样点，测试程序依然是Iometer 1.1.0（Pseudo随机数据模型），以下是成绩图表：
从图表大家能看到到，跟1.0.3固件曲折的曲线相比，1.0.5固件的性能下降曲线显得平滑了相当多，变成类似旧版M5P的类型，在最终将进入稳定态的性能比较也显得较好。可以证明浦科特固件更新日志上关于GC机制改善的一项说明是正确的。
不过可能有些坛友还记得，早前M5P被批评过是‘性能一致性’最差的SSD，当时我曾就此批评发过一篇帖子。在上次的新固件对比中，我已经让大家看到过浦科特在改善这方面表现的成效，现在这个1.0.5版固件，浦科特是否能继续进步呢？
这次我的测试方式跟上次有所不同，所以大家不要直接跟上次的结果比较，测试方法跟浴室在测试ST那块企业级SSD时一致，对M5Pro做SE再全盘快速格式化后用Iometer 1.1 （Pseudo随机数据模型）填充满全盘LBA，设置4KB QD32 ， 4KB分区对齐，随机写入100%，1秒记录一次采样，2000个采样一共2000秒，请大家看下面的测试图表：
从上面2张全局离散图能看出，1.0.3固件和1.0.5固件离散度表现都相当不俗，差异在于1.0.3固件大约5000附近的IOPS是最多的，1.0.5则是14000附近最多。
上面2张是最后400秒的离散局部图，可以清晰看到1.0.3固件主要的IOPS集中在6000附近，最差则不低于5000；1.0.5固件主要的IOPS则集中到14000附近，最差的约接近6000，可以认为1.0.5固件比1.0.3固件在随机4KB 32QD的最差写入性能提升了大约1000 IOPS，平均IOPS更提升了约1倍。
从上面的测试成绩中，我们能看出，浦科特的固件团队在改善GC机制方面确实下了相当大的努力，虽然对大多数家庭用户而言未必会用到如此程度，但浦科特这方面的努力必然是值得肯定的，我期望浦科特的SSD在未来不单只有GC方面做得更好，而是所有方面都做得更好，这样大家作为浦科特SSD的用户才能真正用得舒心和放心。 |
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