本帖最后由 tanzibin 于 2016-7-20 18:09 编辑
一篇是2015年intel发表在ieee xplore上面的:
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7112692
主要就是说了,我们的14 nm工艺,无论是耐操度(Transistor Aging)还是漏电率(Leakage)都大大优于之前的22 nm工艺
14 nm相比22 nm更耐高电压
14 nm相比22 nm漏电率更低
结论就是,14 nm的broadwell和skylake其实比之前的22 nm型号更耐操,对高电压和高温的容忍度更好,就是说更不容易缩缸。
这与我们之前的想法其实是相反的。
而且intel的官方文档中建议的skylake最高电压是1.52 V
所以我觉得对于broadwell和skylake,日常1.4 V使用是没问题的,相比haswell要耐操一些
更重要的是
这一点对broadwell-E来说同样成立
考虑到现在broadwell-E体质普遍不大好,所以如果散热能压得住,不用太担心电压的问题。
以上只是个人看法,我不对你缩缸和烧毁的CPU负责!
以上只是个人看法,我不对你缩缸和烧毁的CPU负责!
以上只是个人看法,我不对你缩缸和烧毁的CPU负责!
第二篇是2006年intel发表在JOM上的
http://iweb.tms.org/PbF/JOM-0606-67.pdf
文中提到,当芯片的面积(Die size)小到一定程度时,如果继续使用 indium TIM钎焊工艺连接die和散热顶盖时,芯片在经过多次的加热冷却循环(比如负载波动造成的温度波动)后会由于钎焊金属的热胀冷缩而破裂。
这估计能解释为啥现在intel的小核心改用使用硅脂,而大核心还在使用钎焊吧
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