浦科特M7V 128G耐久度测试(3)

7月16日上午，浦科特M7V 128G闪存平均擦写次数达到1300次。

使用2GB大小的测试文件填充满全盘，然后使用File Bench软件记录读取速度：

进行24小时连续高温烘烤：

烘烤结束后待盘体冷却至室温，挂副盘开机并立刻使用File Bench测试盘上文件读取速度：基本没有掉速

数据完整性测试顺利通过：

与浦科特M7V同时进行的金士顿UV400耐久度测试大约两天后到达首个测试节点，届时可能会与M7V的高温烘烤测试产生时间冲突，现在的计划是M7V给UV400让路，直接将写入测试进行到1500PE后再进行高温烘烤模拟断电测试。

现在基本上还没有掉速

不错不错，看来浦科特的技术还是靠谱的，希望可以达到2500PE

1300PE都没掉速可见TLC已经成熟多了，剩下就看寿命

持续关注中，希望有个好成绩

TLC写入慢   要比测mlc花更多的时间才写到响应的pe  难

不知道现在说这个写入放大有意义没？好像也三十几了？

yhhekeda 发表于 2016-7-17 21:52
不知道现在说这个写入放大有意义没？好像也三十几了？

就算1500截至能写入6T家用也完全够用了，不过写入放大这么高以前还真没注意过

反正家用环境足够有余

yhhekeda 发表于 2016-7-17 21:52
不知道现在说这个写入放大有意义没？好像也三十几了？

这明显是CDI计算错误，你看看读取量就知道了。

RufengEva 发表于 2016-7-17 23:25
这明显是CDI计算错误，你看看读取量就知道了。

多谢提醒，看看smart里的f1，再结合上面的主机写入量算下，似乎这个单位是32m，不是1g，这样的话写入放大很小，嘿嘿

yhhekeda 发表于 2016-7-18 08:47
多谢提醒，看看smart里的f1，再结合上面的主机写入量算下，似乎这个单位是32m，不是1g，这样的话写入放大 ...

E9、F1、F2的单位都是1G

RufengEva 发表于 2016-7-18 09:34
E9、F1、F2的单位都是1G

但右上角显示的三个数值只有对nand写入量跟smart里的数值一样，f2主机读取量数值*32/1024，刚好对应右上角显示的35g，所以我想着单位是32m，到底是哪里的问题呢？

yhhekeda 发表于 2016-7-18 09:42
但右上角显示的三个数值只有对nand写入量跟smart里的数值一样，f2主机读取量数值*32/1024，刚好对应右上角 ...

CDI右上角显示的三个数值，只能作为参考，尤其是新产品。CDI显示这几个值，只是为了用户直观方便，但是CDI又达不到对每款SSD了如指掌，不可避免地出现换算错误，有时就显示了错误的量值。
要了解一个SSD真正的量值，要结合SMART原始数据、SSD经受的操作来分析。

RufengEva 发表于 2016-7-18 10:26
CDI右上角显示的三个数值，只能作为参考，尤其是新产品。CDI显示这几个值，只是为了用户直观方便，但是CDI ...

多谢，受教了，我现在发帖的这台机器上也是浦科特，不过是很老的m3 64g，它是看不到直观写入量的，据说平均擦除计数单位是64m，所以我就胡思乱想了下，哈哈

huqiaqia 发表于 2016-7-18 13:29
测试颗粒可靠性我记得不是加热吧  应该是极寒

请提供相关言论理由的出处。

huqiaqia 发表于 2016-7-18 13:29
测试颗粒可靠性我记得不是加热吧  应该是极寒

温度越高存储单元里面的电子运动性越强，电子就更容易泄露，达到一定程度就需要主控反复读取和纠错，从而产生掉速现象。所以高温烘烤可以模拟正常温度下长时间断电保存情况。
而温度越低电子运动性越弱，越不容易从单元里面泄露，这就没有什么考察意义了。
至于电子设备整体厂家一般会提供一个正常工作需要的上下温度范围，那个跟这个测试没什么关系。

不错，有主控的LDPC加持，看看能不能超过T150

看样子2000PE有望达到了。

M7V 官方标称就是 2000PE，
但这又有什么意义喃？？？

TLC 硬盘靠谱的一般480G大容量的起步，M7 V 和同厂的6V 差价才50块，Q 200EX 现在不过960元