本帖最后由 dvcam 于 2016-2-21 13:40 编辑
看了前几天的高温老化试验帖子,有人疑问,为什么85度烘烤xx小时等于常温x年,为什么40度三个月等于30度一年?
简单扫盲一下。伸手党直接看最底下的表就可以了。
我们知道SSD的NAND单元,是利用保存在FG(Floating Gate)里的电子来保存数据的。SSD断电后,FG的电子,会随着时间逃逸,当逃逸掉的电子数量达到一定程度,这个单元保存的数据就丢失了,如果很多单元的数据都丢失了,超出了主控纠错能力,那么SSD上的数据就丢了。电子逃逸这个过程在常温下很慢,不过高温可以加速这个过程。
按规范,消费级SSD在PE用完后,要求数据在30度保持1年。不过1年实在太久,测试不会等一年来测,都是用高温加速模拟这个过程。
加速系数,利用下面这个公式来计算(其实就是Arrhenius Equation),注意温度T是开尔文度(=摄氏度+273)。
题外话,还记得几年前Sandisk推出一个号称保存100年的U盘吗?
Sandisk也是用高温加速老化,使用Arrhenius Equation来计算加速系数,用高温模拟‘保存100年’的。
只不过Sandisk的公式里,Ea=1.0ev,这应该是全新没有PE的NAND的情况。按上面那个公式的说明,NAND的PE用完时,Ea=1.1ev
1.0ev和1.1ev算出的加速系数的差别,以30度为基准
1.0ev算出的加速系数小一些,也就是等效高温烘烤时间要更长一些。
这也很合理,PE使用较少的NAND,保存数据的时间更长。PE用完的NAND,保存数据的时间会变短。
Sandisk那个号称保存100年的U盘,要求只写入一次或者很少几次,不能很多次反复写入,不然就保存不到100年了,呵呵。
最后贴一个表,Excel拉出来的,30度为基准,各温度下的加速系数,1.1ev算的。根据这个表,就知道为什么“40度三个月等于30度一年”了。
参考来源:
http://www.eeweb.com/blog/eli_ti ... ash-in-ssd-products
http://forums.sandisk.com/t5/All ... Testing/td-p/245746
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