本帖最后由 Essence 于 2015-7-20 12:43 编辑
前边我们评测了浦科特mSATA接口的新产品M6MV,在M.2接口方面浦科特也推出了全新的M6GV系列。M6GV与M6MV通用包装,标签上醒目标出了型号、接口规格及容量信息。
浦科特M6GV 512G使用M.2 2280规格。
浦科特M6GV使用与之前评测的M6MV相同的SM2246EN主控方案。SM2246EN使用单核心RISC架构CPU,四通道、每通道支持8CE,纠错能力最大BCH ECC 66bit/1KB,支持DevSlp节能特性。根据Silicon Motion Technology官网的信息,使用SM2246EN方案的SSD平均功耗仅为60mW,相比Intel 2014年超极本指导要求低25%(根据MobileMark 2012测试结果),能够延长笔记本电池续航时间。
浦科特M6GV使用了东芝最新一代15nm MLC颗粒,编号为TH58TFT0DDLBA8H,16KB Page,单颗容量1024Gb,正反面共计4颗组成4096Gb(512GB)容量。外置DRAM来自SK Hynix,编号为H5TC4G63AFR-PBA,运行频率DDR3 1600Mhz,容量512MB。
测试平台及信息识别
测试平台:
CPU:Intel Core i5 4670K@4.5Ghz
主板:MSI Z97 GAMING 9 AC
内存:DDR3 16GB
硬盘:Plextor PX-256M5Pro(系统盘)
Plextor PX-512M6GV-2280
系统:Windows 8.1 x64
驱动:微软默认AHCI
CtystalDiskInfo信息识别:
浦科特M6GV的SMART项目含义与其他浦科特6系列SSD相同。
基准测试
基准测试1:TxBENCH测试
基准测试2:PC Mark 7测试
基准测试3:PC Mark 8测试
进阶测试
进阶测试项目1:4KB QD1 ~ QD32的 随机读写理论测试
此测试目的是为了试探SSD的并发优化程度和IOPS封顶数值。测试方法是全盘快速格式化后用Iometer 1.1 (Pseudo随机数据模型)填充满全盘LBA,然后测QD1 ~ QD32的读取数值,每项1分钟取平均值。写入部分则是全盘格式化后生成8GB LBA测试块。
进阶测试项目2:4KB QD32 随机写入离散度测试,时间5000秒。
测试方法是全盘快速格式化后用Iometer 1.1 (Pseudo随机数据模型)填充满全盘LBA,设置4KB QD32 , 4KB分区对齐,随机写入100%,1秒记录一次采样,5000个采样一共5000秒。
离散测试主要是用于给需要在持续高负载且对写入延迟需求很苛刻的使用环境下作参考之用。
浦科特M6GV 512G在离散度测试中表现不佳,稳定态平均IOPS为15541。
进阶测试项目3:PCMARK 8扩展存储测试之性能一致性部分(稳定态家用环境性能)
这个测试主要是给家用最恶劣环境下的性能参考(全盘不留任何剩余空间,禁用了Windows文件系统缓存跑纯RAW模式)。
总结
浦科特M6GV的市场定位居于LiteOn ZETA M.2和浦科特M6G之间,适合当下新型号超极本SSD容量升级,如Thinkpad X1 Carbon、联想YOGA 3 Pro、戴尔XPS13(2015款)使用的都是M.2 2280规格SSD,买低配型号想自己动手换装大容量SSD的朋友可能正是浦科特M6GV所面向的目标群体。此外搭载M.2插槽的Intel 9系台式机主板也可以安装使用浦科特M6GV。
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