本帖最后由 ggxuelei 于 2015-7-13 11:49 编辑
7.3补充更新前一段时间的测试内容:
6月26日至6月28日进行第一阶段耐久度消耗
Anvil’s Storage Utilities耐久度测试:(测试机上时区设置错误所以时间显示有误)
Anvil's Storage Utilities的设置保持全部默认,100%不可压缩数据,Anvil's Storage Utilities会生成随机大小随机数据内容的文件直至盘内剩余最小空间12GB为一个循环,每个测试循环大约写入100GB数据,然后删除所有生成的测试文件,开始下个循环的写入。
第一波的耐久度消耗过程数据写入量达到22020GB(21.5TB),根据闪迪SSD Dashboard显示,闪迪至尊高速(Ultra II) 120G的官标耐久度消耗掉36.8%,以此计算闪迪对闪迪至尊高速120G的官标耐久度大约为22020/120/0.368=498倍全盘写入,基本和之前国外评测中的500PE官标耐久度说法吻合。
从数字来看500PE似乎与传统上MLC 3000PE相差甚远,不过500PE基本相当于58.6TBW,已经达到一些标称75TBW的MLC盘标称寿命的78%。如果按3年保修期正好写挂的话,每天写入量为54.8GB。如果按家庭中等使用强度每天写入40GB计算,可使用4.1年。如果用消耗品而非传家宝的视角去看,这个使用寿命也是可以接受的,况且闪迪的保修政策并不限制写入量。退一步说,如果对这个结果仍不满意,那么选择大一级别的240GB的耐用度也就比较充足了。
6月28日开始进行读取干扰测试,这一部分是应@dboy99 的提议加入的。随着大家对SSD了解深入,纠结也就会越多。当了解到读取也有“寿命”的时候,肯定会有纠结帝难以淡定。TLC读取干扰有多大?数据写入后长期不改动只读取是否会因读取干扰而导致数据出错?反复读取是否会引发SSD主动搬运冷数据而增大颗粒磨损使耐久度问题“雪上加霜”?还是用测试来验证,不过说实话我也不知道这个测试结果是怎么样的,希望闪迪至尊高速好运,也希望日后其他所有TLC都能做好。
为了进行读取测试,首先必须在SSD盘上预先写入一部分数据模拟正常使用。这里我写入了大约2/3满盘容量的数据:
上图也能看到,SSD Dashboard报告的“剩余使用时间”为64%,可与前一个图片中磨损指标36.8%的数据相对应。之所以首先把耐久度消耗掉一部分才开始读取测试,也是因为读取干扰可能随耐久度消耗而提高,当然这个只是猜测,并无足够权威资料予以支持。在写入预留文件后使用MD5校验软件生成MD5校验信息,并随后验证了一遍生成的MD5信息无误。此时主机读取量计数为495GB,接下来将开始对SSD的纯读取操作,并在随后考察纯读取不写入一段时间后盘上数据是否出错、颗粒磨损指标是否因读取而增加。
除了MD5校验之外,之前国外网友为三星840掉速而设计的文件读取掉速验证软件,我也用上了。因为测试机配置较低(Celeron B847,主频1.1Ghz),所以这里读取数据并不怎么好看,软件筛选了盘上11242个文件中大于1MB的文件,共计1121个进行测试,平均读取速度449MB/s。后期测试当中会重复使用这个软件进行读取测试,考察闪迪至尊高速(Ultra II)是否会有三星840Evo那样的读取掉速问题。
6月29日纯读取过程开始:
纯读取操作选择了AIDA64中的磁盘测试工具,之所以选择这个小众工具来进行读取测试是因为Txbench、AS SSD Benchmark、CrystalDiskMark等软件都缺乏循环测试功能,并且这些软件的测试原理是首先生成一个测试文件,然后对测试文件进行读写测试,并不能读取到该测试文件之外的部分,也就是说我之前留在盘上的预留数据,他们都访问不到,也就无法用于读取干扰的测试。IOMeter虽然强大,但要对全盘LBA范围进行读取访问,也需要在无文件系统的条件下才能进行,同样不符合要求。HDTune可以满足全盘LBA范围读取测试,但缺乏循环测试功能。因此最后只剩下AIDA64的磁盘测试工具最合适。
Aida64的说明中关于Random Read测试的说明:
[ Test B - RandomRead ] 1. This test is designed tomeasure the random reading performance of the storage device by readingvariable sized data blocks from random locations on the surface of the device. 2. This test uses conventionalsector reading operations. Before eachread operation it moves the read pointer to a random location to get thereading head of the device (if exists) move before the read operation. Therefore this test is a combined read andaccess test. 3. Duration of this test isdesigned to be quick, shorter than the Quick Linear Read test.
截止到7月1日晚上8:36,主机读取量计数达到54199GB:
由于电源故障,7月2日被迫停机一天,7月3日中午恢复读取测试。5天时间毕竟太短,还看不出读取是否会有掉速:
本楼将不定期继续更新,欢迎关注。
下阶段测试计划:
读取测试再进行5-10天,待主机读取量达到1500倍全盘容量左右时,进行预留文件的MD5校验,检查纯读取不改写是否会因读取干扰导致数据出错;进行文件读取速度测试,检查是否有读取掉速现象产生。
为尽可能延长读取掉速测试时间,充分进行验证,接下来准备先进行PC Mark 8存储测试,用PC Mark 8存储测试脚本模拟日常使用情景下,Ultra II的写入放大率表现。PC Mark 8存储测试不需要删除原有预留文件,因此将不耽误读取掉速测试的继续进行。PC Mark 8命令行测试也会进一步消耗一些耐久度。
大家对测试满意的话请不吝点赞,你们的支持是我的最大动力。在验证完各种计划内容后,最终这块盘写入测试进行到底~我甚至准备在官标耐久度用完后把盘放高温环境加速断电数据保存验证,终极目标就是彻底写挂挖掘极限了。
7月8日更新:
读取测试仍在继续,TLC是否存在影响使用的读取干扰现象?是否会因读取而掉速?月底前见分晓~
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